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主营产品:X射线荧光光谱仪

日本理学波长型x射线荧光光谱仪

型 号

产品时间2020-04-24

所属分类日本理学波长型x射线荧光光谱仪

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产品描述:理学ZSX Primus III+日本理学波长型x射线荧光光谱仪提供主要和次要原子元素的快速定量测定,从氧(O)到铀(U)的低标准的广泛样品类型。
产品概述

ZSX Primus III+日本理学波长型x射线荧光光谱仪,快速定量元素分析的高性能WDXRF!

上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

 

理学ZSX Primus III+日本理学波长型x射线荧光光谱仪提供主要和次要原子元素的快速定量测定,从氧(O)到铀(U)的低标准的广泛样品类型。

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1、从O到U的元素分析

2、上照射式光学小化污染

3、小占地面积节省实验室空间

4、高精度样品定位

5、特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误

6、统计过程控制(SPC)的软件工具

7、优化抽空和真空泄露率改善吞吐量

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用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件,快速提供准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子(轻、超轻元素)、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。

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高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个独特的光学配置执行高精度分析,用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

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 ZSX Primus III+理学波长色散型X射线荧光光谱仪具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。

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